手持式XRF分析仪携带方便，样品处理简单，并且可以快速获得检测结果。对于XRF分析仪*常见的应用之一，合金鉴别，使用我们的Vanta™ XRF分析仪只需要1-2秒时间就可识别合金号。

　　手持式XRF分析仪能够定量分析元素周期表上从镁到重元素等超过90%的元素，覆盖了常用商品合金所含有的绝大多数元素。图1为常见合金元素的1检测限。XRF分析仪能够对铝合金、不锈钢、铬钼合金、金属管道和法兰材料，黄铜、青铜以及其他铜合金，金属焊料、钛合金、工具钢、镍基或钴基等“超级合金”进行材料牌号匹配和元素定量分析。

　　手持式XRF分析仪无法直接测量比镁轻的元素。其中包括诸如锂、铍和碳等元素。这些元素与很多应用有关，比如：

　　但许多此类合金的牌号仍然可以根据其他合金元素的组分进行鉴别。如果需要定量分析这些轻元素，那就需要使用其他分析方法了。

　　XRF分析仪的工作原理可以概述如下：(1) 发射X射线，激发样品产生荧光; (2) 探测器接收X射线荧光; (3) 利用复杂的运算对数据进行处理; (4) 牌号识别 (图2)。XRF是一种表面检测技术。对于诸如铝制类的轻合金，XRF分析仪只能对试样表面深度几百微米进行测量。对于铸铁或铜等主要金属，XRF分析仪对试样的测量深度小于一百微米。而对于金或铅等致密材料，其仅能测量表面的数十微米。这就意味着材料表面准确体现总体成分这一点非常关键。诸如油漆、密封材料和镀层以及表面污染等可能会对分析造成极大影响。与此类似，喷砂或抛丸、研磨、甚至粉尘的残留物均可能影响材料可靠性鉴别。因此在使用XRF分析仪进行检测之前务必对试样进行清洁。

　　手持式XRF分析仪采用低功率X射线管。由于发射和接收的X射线功率较低，将分析仪贴近试样就非常重要。理想情况下，试样应当与仪器窗口面直接接触。如果试样具有复杂的几何形状那么就会存在很大难度，但Vanta分析仪的狭窄轮廓外形能够让仪器充分贴近诸如以90度角的卷边焊缝材料。

　　XRF的X射线物理特性基本上不会受试样温度变化的影响。此外，Vanta XRF分析仪性能可靠，不会受到环境条件变化的影响。该仪器在-10°C和50°C(14–122°F)2之间的工作温度范围使用时不会发生温度漂移或性能降低。

　　Vanta分析仪可测量温度可达100°C (212°F)的试样。高于上述温度时，仪器检测窗上的聚丙烯薄膜可能会受到损坏。仪景通可为高温检测提供替用的面板。该面板包括能够测量温度高达315°C (600°F)试样的Kapton检测窗。

　　X射线荧光光谱法是一种功能强大的元素定量分析方法。利用分析能力和简便易用性能够快速可靠地进行材料可靠性鉴别（PMI）。其不但可以帮助避免生产损失，更重要的是还可以避免因使用错误材质造成的人身伤亡事故。想要了解更多仪景通（原伊诺斯）X射线荧光分析仪（XRF）仪器可以即时致电赢洲科技（上海）有限公司18202125770。